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http://hdl.handle.net/11624/297
Registro completo de metadados
Campo DC | Valor | Idioma |
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dc.contributor.author | Hennes, Marco André Binz | - |
dc.type | Dissertação de Mestrado | pt_BR |
dc.language.iso | pt_BR | pt_BR |
dc.title | Plataforma para testes de circuitos digitais. | pt_BR |
dc.date.issued | 2009 | - |
dc.degree.local | Santa Cruz do Sul | pt_BR |
dc.contributor.advisor | Santos, Rafael Ramos dos | - |
dc.degree.department | Programa de Pós-Graduação em Sistemas e Processos Industriais | pt_BR |
dc.description.abstract | With the advance of technology for integrated circuits production, it is necessary a greater effort to design and verify these circuits. The test of integrated circuits involves several steps and its goal is to identify and isolate faulty devices. When a new integrated circuit is designed, and before it is sent to production, the first step is to verify that the project is correct. With the growth of microelectronics in the country, certainly it will be needed to create new efficient testing devices and preferably with affordable cost to small sized companies. This research aims at creating an environment of low cost tests using a programming language, which allows testing in digital circuits. This paper describes a platform for testing integrated circuits by using structural testing. This analysis is done in combinational circuits of ISCAS85 benchmark (HANSEN et al. 1999) for failures of type stuck-at. The testing platform was developed with low cost components, giving the platform a large differential. Moreover, the environmental performed both tests, in software and hardware. For tests with hardware, the environment emulates the circuit in a FPGA with the aim to prove the simulated tests in in a real environment. Another important difference is the integration of the environments of simulation, allowing testing in software as well as in hardware. | pt_BR |
dc.description.nota | Inclui bibliografia. | pt_BR |
dc.subject.other | Circuitos integrados digitais | pt_BR |
dc.subject.other | Circuitos integrados digitais - Testes | pt_BR |
dc.subject.other | Controladores programáveis | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11624/297 | - |
dc.date.accessioned | 2015-07-28T17:41:27Z | - |
dc.date.available | 2015-07-28T17:41:27Z | - |
dc.degree.grantor | Universidade de Santa Cruz do Sul | pt_BR |
dc.description.resumo | Com o avanço da tecnologia de produção de circuitos integrados, é necessário um maior esforço para concepção e verificação destes circuitos. O teste de circuitos integrados envolve diversas etapas e seu objetivo é identificar e isolar dispositivos falhos. Quando um novo circuito integrado é projetado, e antes que seja enviado para produção, a primeira etapa deve verificar se o projeto está correto. Com o crescimento da microeletrônica no país, com certeza será necessário que sejam criados dispositivos de testes cada vez mais eficientes e de preferência com custos acessíveis às empresas de menor porte. O presente trabalho visa a criação de um ambiente de verificação de baixo custo usando uma linguagem de programação que permita verificar os circuitos digitais. Esse trabalho descreve uma plataforma de verificação de circuitos integrados que emprega testes estruturais. Essa análise é feita em circuitos combinacionais do benchmark ISCAS85 (HANSEN et al. 1999) para falhas do tipo stuck-at. A plataforma de verificação foi desenvolvida com componentes de baixo custo, o que dá à plataforma um grande diferencial. Além disso, o ambiente realiza tanto verificação em software, como em hardware. Para a verificação realizada em hardware, o ambiente emula o circuito em um FPGA com o propósito de comprovar a simulação em um ambiente real. Outro diferencial importante é a integração dos ambientes de simulação, permitindo realizar verificação em software, como em hardware. | pt_BR |
Aparece nas coleções: | Programa de Pós-Graduação em Sistemas e Processos Industriais – Mestrado |
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